Professor visitante Victor Champac profere palestra no dia 13 de novembro
No dia 13 de novembro, às 19h, o professor visitante do National Institute or Astrophysics, Optics and Electronics, no México, Victor Champac profere a palestra Test & Reliability Challenges in Advanced Technology Nodes, integrando a agenda de eventos do Projeto Institucional de Internacionalização (PUCRS-PrInt).
O pesquisador abordará a tecnologia FinFET, adotada para aplicações de alto desempenho e economia de energia. Os circuitos baseados em FinFET apresentam um ganho dramático no desempenho em baixa tensão operacional. Desafios essenciais nas tarefas de design e teste serão abordados nesta palestra.
O encontro ocorre na sala 517, do Prédio 32 do Campus (av. Ipiranga, 6681). A palestra será proferida em inglês, sem tradução. Não é necessário realizar inscrição prévia.
